技術(shù)指標(biāo)
l Z軸測試精度0.1nm
l 噪音水平 XY方向小于0.3 nm RMS,Z方向小于0.2 nm RMS
l 掃描模式:接觸模式、輕敲模式、側(cè)向力模式
功能及特性
l 石墨烯微觀表面形貌分析
l 樣品表面導(dǎo)電性分布
光學(xué)顯微分析
熒光顯微分析
傅立葉變換紅外光譜分析
3D表面形貌分析
聯(lián)系人:嚴(yán)春偉
手機(jī):13914543285
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