技術指標
l X射線發生器功率:3KW,Cu靶,具有CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路
l 測角儀為θ/θ測角儀,樣品水平放置不動,測角儀最小步進為1/10000度
l θs/θd聯動時,角度測量范圍為-3°~160°
l 配備半導體陣列探測器,能量分辨率≦20%,可進行高能量分辨測試。
功能及特性
l 粉末樣品的物相定性與定量分析,以及微區樣品的分析
l 計算結晶化度、晶粒大小
l 確定晶系、畸變
光學顯微分析
熒光顯微分析
傅立葉變換紅外光譜分析
原子力顯微分析
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